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Termografía infrarroja (TI) para detectar los defectos internos causados por los insectos xilófagos en los culmos de bambú
Details
Termografía infrarroja (TI) para detectar los defectos internos causados por los insectos xilófagos en los culmos de bambú
Journal
Revista ingeniería de construcción
ISSN
0718-5073
Date Issued
2019-12
Author(s)
A Jaramillo
Universidad UTE
 do Valle
L Librelotto
DOI
10.4067/S0718-50732019000300278
URL
https://cris.ute.edu.ec/handle/123456789/855