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Termografía infrarroja (TI) para detectar los defectos internos causados por los insectos xilófagos en los culmos de bambú
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Termografía infrarroja (TI) para detectar los defectos internos causados por los insectos xilófagos en los culmos de bambú
Journal
Revista ingeniería de construcción
ISSN
0718-5073
Date Issued
2019-12
Author(s)
A Jaramillo
Universidad UTE
 do Valle
L Librelotto
DOI
10.4067/S0718-50732019000300278
URL
https://cris.ute.edu.ec/handle/123456789/855